仪器采用*技术制造,测角仪测角准确度与精确度均达到*水平。光源与探测器能长时间稳定工作,保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析,包括:物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析;薄膜材料分析,小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器(或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器)、数据处理软件、相关应用软件等。
仪器特点
长寿命X射线管:金属陶瓷X射线管,具有散热好、运行功率高(40kV×40mA)、使用寿命长特点
高精密测角仪:衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术,具有定位准确、测量精度高
测角仪内藏式设计,使仪器表现更整洁、美观、大方,在衍射角度测量范围内,衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全:高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用",软件自动识别控制技术,方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠:X射线散射线防护装置更安全可靠,样品测量时射线防护门自动禁止打开,双重防护,任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射
应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析(Rievtveld分析)
非常规条件下晶体变化(高低温)
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析
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