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XU-100膜厚测试仪介绍

浏览次数:234发布日期:2023-09-04

全面升级XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术,搞定企业品质管控!XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高。

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XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪,采用下照式C型腔体设计,搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统,以及高敏变焦测距装置,对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层,检出限可达0.005μm,最小测量面积0.2mm²,凹槽深度测量范围可达0-30mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。


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