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台式X射线衍射仪

简要描述:台式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。

  • 产品型号:XRD衍射仪
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-08-19
  • 访  问  量:331
详细介绍
品牌其他品牌角度偏差<±0.02°
重复性正比计数探测器、SDD探测器最小步进角度-3° - +150°
发生器功率600Wkw价格区间20万-50万
仪器种类探测器及其他设备应用领域地矿,能源,电子,制药,综合

台式X射线衍射仪X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。


台式X射线衍射仪是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器,其融合XRD和计算机软件等多项技术,可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定,具有操作简便、精度高、检测速度快等特点,为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。

X射线衍射分析仪.jpg


界FRINGE桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。界FRINGE是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器,其融合XRD和计算机软件等多项技术,可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定,具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点,为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。

使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门,节约桌面空间,适合每一台办公桌,有效提高空间利用率。内置水循环冷却系统界FRINGE内置水循环冷却系统,无需额外增加冷水机,软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后,自动进行物相分析,并给出物相各组分百分比,大大降低了使用人员的要求,仅仅需要点击“开始测试",其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置,样品舱关闭后属于全封闭性能,操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝,无任何运动可调部件,增加测角系统的可靠性,从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器(数字脉冲处理计数探测器),计数吞吐量≥1×10^7CPS,无需使用二级单色仪,DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据,支持元素分析。

应用场景生物医药环境监测地质与探勘研究与教育金属化合物化学与催化剂

界FRINGE桌面式X射线衍射仪



规格参数

测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm
2θ角度范围-3° - +150°
2θ角度精度全谱范围内<±0.02°偏差
分辨率<0.04°2θ
索拉狭缝集成式索拉狭缝,无任何运动可调部件,增加测角系统的可靠性,从而使得界FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台
X光管金属陶瓷 X 射线管,焦点:1 x 10 mm,默认配置Cu靶,可选配 Co、Cr、Mo靶
X射线管功率600W
仪器尺寸580 x 450x 680mm(L×W×H)
重量120KG
电源220V±10V,50Hz,整机功率 1000W
散热方式界FRINGE CLASS内置水循环冷却系统,无需额外增加冷水机,软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息
探测器正比计数探测器、SDD探测器(可选配)
接口紧凑的家用墙插插头提供电源,USB接口连接PC用于控制XRD
扫描速度
0.01 - 120˚/min
气源提供2路气源接口,可用于原位分析或气氛保护
安全性界FRINGE CLASS可有效屏蔽X射线,具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置,样品舱关闭后属于全封闭性能,操作界面有样品舱关闭提示功能
云端服务功能界FRINGE CLASS配套使用可同步的移动端APP服务,用于支持衍射数据卡片化管理,并支持接入知识管理系统
CrystalX软件浪声科学为界FRINGE CLASS开发出专用的晶体分析软件CrystalX,CrystalX在获得衍射数据后,自动进行物相分析,并给出物相各组分百分比,大大降低了使用人员的要求,无需手动检索,无需扣背景,无需平滑,无需手动寻峰,仅仅需要点击“开始测试",其它交给CrystalX软件





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