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高分辨率薄膜衍射仪 定性分析

简要描述:高分辨率薄膜衍射仪 定性分析在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。

  • 产品型号:XRD衍射仪
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-03-15
  • 访  问  量:86
详细介绍
品牌SKYRAY/天瑞仪器角度偏差<±0.02°
重复性正比计数探测器、SDD探测器最小步进角度-3° - +150°
发生器功率600Wkw价格区间20万-50万
仪器种类探测器及其他设备应用领域地矿,能源,电子,制药,综合

高分辨率薄膜衍射仪 定性分析X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。


高分辨率薄膜衍射仪 定性分析是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器,其融合XRD和计算机软件等多项技术,可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定,具有操作简便、精度高、检测速度快等特点,为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。

X射线衍射(XRD)是一种理想的、非破坏性的、可应用于大部分类型样品的无损分析方法!
X射线衍射可用于晶相的确定,含量检测以及原子结构的测定。样品用量少,消除了可能产生的样品物相被破坏和性质改变的风险。
在实际应用中,对除X射线衍射外的其他方法,复杂组分样品的测量一直是一个艰巨的挑战。对于X射线衍射,衍射图谱中所有的细节信息都是有价值的,且会被考虑到,并终使样品表征充分。

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仪器采用*技术制造,测角仪测角准确度与精确度均达到*水平。光源与探测器能长时间稳定工作,保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析,包括:物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析;薄膜材料分析,小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器(或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器)、数据处理软件、相关应用软件等。

仪器特点
长寿命X射线管:金属陶瓷X射线管,具有散热好、运行功率高(40kV×40mA)、使用寿命长特点
高精密测角仪:衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术,具有定位准确、测量精度高
测角仪内藏式设计,使仪器表现更整洁、美观、大方,在衍射角度测量范围内,衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全:高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用",软件自动识别控制技术,方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠:X射线散射线防护装置更安全可靠,样品测量时射线防护门自动禁止打开,双重防护,任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射

应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析(Rievtveld分析)
非常规条件下晶体变化(高低温)
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析

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射线衍射(XRD)分析仪的技术规格

XRD分辨率0.2 2Ø FWHM
XRD范围5–55° 2Ø
探测器类型1024 × 256像素;2维Peltier致冷CCD
样品颗粒大小< 150 μm的碾碎矿石(100目筛,150 μm)
样品量约15 mg
X射线管靶材钴或铜(钴为标准配置)
X射线管电压30 kV
X射线管功率10 W
数据存储240 GB,坚固耐用的内部硬盘驱动器
无线连通性802.11 b/g,从网络浏览器进行遥控
操作温度–10°C ~ 35°C
重量12.5 kg
尺寸30 cm × 17 cm × 47 cm
电源要求普通的AC电源(无冷却系统)









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