品牌 | SKYRAY/天瑞仪器 | 角度偏差 | <±0.02° |
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重复性 | 正比计数探测器、SDD探测器 | 最小步进角度 | -3° - +150° |
发生器功率 | 600WkW | 价格区间 | 20万-50万 |
仪器种类 | 探测器及其他设备 | 应用领域 | 地矿,能源,电子,制药,综合 |
薄膜材料高分辨率X射线衍射分析X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上,样品台位于测角仪中心,基于反射几何θs-θd,X射线光束在满足布拉格定律时,在特定的方向上发生衍射现象,经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上,最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。
薄膜材料高分辨率X射线衍射分析是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器,其融合XRD和计算机软件等多项技术,可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定,具有操作简便、精度高、检测速度快等特点,为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。
X射线衍射(XRD)是一种理想的、非破坏性的、可应用于大部分类型样品的无损分析方法!
X射线衍射可用于晶相的确定,含量检测以及原子结构的测定。样品用量少,消除了可能产生的样品物相被破坏和性质改变的风险。
在实际应用中,对除X射线衍射外的其他方法,复杂组分样品的测量一直是一个艰巨的挑战。对于X射线衍射,衍射图谱中所有的细节信息都是有价值的,且会被考虑到,并终使样品表征充分。
仪器采用*技术制造,测角仪测角准确度与精确度均达到*水平。光源与探测器能长时间稳定工作,保证衍射峰位、峰形和强度测量准确、精确。进行物相结构分析,包括:物相含量、晶粒大小判断、结晶度、奥氏体含量、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、物相结构等分析;薄膜材料分析,小角粒径分析等。仪器包括高稳定性X射线发生器、高精密测角仪、封闭正比探测器(或SDD探测器、或一维高速半导体阵列探测器)、数据处理软件、相关应用软件等。
仪器特点
长寿命X射线管:金属陶瓷X射线管,具有散热好、运行功率高(40kV×40mA)、使用寿命长特点
高精密测角仪:衍射角驱动采用伺服电机驱动+光学编码控制技术,具有定位准确、测量精度高
测角仪内藏式设计,使仪器表现更整洁、美观、大方,在衍射角度测量范围内,衍射角度线性度小于0.02°
拓宽衍射仪应用领域的附件齐全:高温、低温、多功能等衍射仪各种附件安装实现“即插即用",软件自动识别控制技术,方便操作人员对仪器的使用
射线防护安全可靠:X射线散射线防护装置更安全可靠,样品测量时射线防护门自动禁止打开,双重防护,任何情况下都能避免操作人员受到散射线辐射
应用领域
未知样品中物相鉴定
混合样品中已知相定量分析
晶体结构解析(Rievtveld分析)
非常规条件下晶体变化(高低温)
薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度、电荷密度
金属材料织构、应力分析
XRD分辨率 | 0.2 2Ø FWHM |
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XRD范围 | 5–55° 2Ø |
探测器类型 | 1024 × 256像素;2维Peltier致冷CCD |
样品颗粒大小 | < 150 μm的碾碎矿石(100目筛,150 μm) |
样品量 | 约15 mg |
X射线管靶材 | 钴或铜(钴为标准配置) |
X射线管电压 | 30 kV |
X射线管功率 | 10 W |
数据存储 | 240 GB,坚固耐用的内部硬盘驱动器 |
无线连通性 | 802.11 b/g,从网络浏览器进行遥控 |
操作温度 | –10°C ~ 35°C |
重量 | 12.5 kg |
尺寸 | 30 cm × 17 cm × 47 cm |
电源要求 | 普通的AC电源(无冷却系统) |
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