XU-100膜厚测试仪介绍

全面升级XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术，搞定企业品质管控！XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高。

XU-100是一款高性价比型镀层测厚仪/膜厚测试仪/光谱测厚仪，采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。

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