多量程x射线纳米ct系统-x射线三维显微镜生产厂家

非破坏性检验技术中存在一种方法，能够在不拆解样品的前提下揭示其内部三维结构，此方法基于X射线计算机断层扫描原理。这类设备在工业领域被用于获取物体内部精确的空间信息。

多量程x射线纳米ct系统，X射线源电压最高可达160kV。最多可提供四个探测器，CMOS探测器用于高能量快速扫描，3个CCD探测器用于各种情形下的高分辨率扫描。高能量与高分辨的结合，使其能够灵活地适用于各种类型、各种大小的样品，并实现纳米级分辨率的样品扫描，为不同领域材料的3D成像和精确建模提供地解决方案，广泛应用于油气开采，复合材料，燃料电池，电子产品等领域。

SkyScan 2214高分辨三维X射线显微成像系统可对直径为30cm，长度40cm样品的内部结构进行3D无损检测与重建，对样品的细节检测能力（标称分辨率）最高可达60纳米。

特点介绍：

●保护样品：无需制备样品，无损三维重现

● 对样品的细节检测能力（分辨率）最高可达：60nm

● 最大样品直径：30cm； 最大样品长度：40cm

●自动可变扫描几何系统：根据用户设定的放大倍率，仪器可自动优化扫描几何，找到最快的测试方案，用最短时间，得到高质量数据

●全新的160kV超高强度开放式微焦斑X射线光源，提供更高的光通量和更好的光束稳定性，20-160kV连续可调，免维护

● 配备多探测器：600万像素CMOS探测器适用于高能量X射线，800/1100万像素CCD探测器更适合高分辨测试模式